Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем
34150504
Русские книги и товары в Германии, Европе и других странах по низким ценам INTROTEK GmbH Регистрационный номер:
HRB 5664
...
Варианты оплаты
Доставка
ISBN9785732511154
АвторКуликов Игорь Валентинович
Переплетмягкий
В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надежность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие 'электронного функционала' и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надежность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также ее ничтожную достоверность в случае оценки надежности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель. Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.
ISBN
9785732511154
Автор
Куликов Игорь Валентинович
Страниц
172
Формат
24x17x1 см
Переплет
мягкий
Язык издания
Язык издания:русский
Отзывы не найдены
Войдите в учётную запись, чтобы мы могли сообщить вам об ответе