Stamp-45-off-English

Мир Физики и техники. Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении.

Написать отзыв
Старая цена: 55.35
30.44
Вы экономите: 24.91 (45%)
10 дн.
4387651
Отправка в течение 12-17 рабочих дней
+
Автор:Под ред. Шварца А. и др.
Переплет:твердый
Категория:Компьютерные технологии Наука и математика
ISBN:978-5-94836-385-1
Dimensions: 175x5x245cm
Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ.
Перевод на русский язык второго оригинального издания книги МЕТОД ДИФРАКЦИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области.
Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.
Автор:
Автор:Под ред. Шварца А. и др.
Переплет:
Переплет:твердый
Категория:
  • Категория:Компьютерные технологии
  • Категория:Наука и математика
ISBN:
ISBN:978-5-94836-385-1

Отзывы не найдены