Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов. Монография
Войдите в учётную запись, чтобы мы могли сообщить вам об ответе
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.
Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям "Радиотехника", "Инфокоммуникационные технологии и системы связи", "Конструирование и технология электронных средств", "Электроника и наноэлектроника", "Электроэнергетика и электротехника" (уровень магистратура), аспирантам направлений "Электроника, радиотехника и системы связи", "Электро- и теплотехника".
2-е издание, стереотипное.
Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям "Радиотехника", "Инфокоммуникационные технологии и системы связи", "Конструирование и технология электронных средств", "Электроника и наноэлектроника", "Электроэнергетика и электротехника" (уровень магистратура), аспирантам направлений "Электроника, радиотехника и системы связи", "Электро- и теплотехника".
2-е издание, стереотипное.
Автор:
Автор:Дракин Александр Юрьевич, Зотин Виталий Федорович, Потапов Леонид Алексеевич
Переплет:
Переплет:твердый
Категория:
- Категория:Инженерное дело и транспорт
- Категория:Справочники
Язык издания:
Язык издания:русский
Бумага:
Бумага:офсетная
Серия:
Серия:Учебники для вузов. Специальная литература
ISBN:
ISBN:978-5-8114-8773-8
Отзывы не найдены